RUFEREQ

Selon la norme MIL-HDBK 781, la démonstration d’une fiabilité cible (probabilité qu’un système remplisse une fonction déterminée pendant un temps donné) passe par la définition de deux temps moyens de bon fonctionnement (MTTFs) et deux niveaux de risque (client et fournisseur). La démonstration est faite si, sur un échantillon de n pièces, pas plus de c défaillances sont observées pendant un temps de test donné T. Cette méthode est le plus souvent couplée avec un modèle de vie accélérée : des lois d’accélération permettent de réduire le temps effectif de test par rapport à un test sous environnement nominal. Ceci est bien établi pour l’analyse de la fiabilité quand la durée de vie, vue au niveau système, n’a qu’un seul mode de défaillance, l’hypothèse forte (mais habituelle en électronique) du taux de défaillance constant permettant en outre de simplifier grandement le traitement du problème puisque seule l’observation du temps de fonctionnement total d’un échantillon test est utilisée. Cependant, si plusieurs modes de défaillance émergent d’une analyse AMDEC, associés par exemple à autant de sous-systèmes, si ces modes de défaillance ont un comportement qui leur est propre en termes de facteur d’accélération, l’analyse globale de la fiabilité du système nécessite une analyse détaillée de la fiabilité pour chaque mode de défaillance, chacune devant être conduite séparément mais de façon à contrôler la démonstration de la fiabilité globale du système intégré. Le problème posé ici est de quantifier les différents tests en termes de nombre de pièces, de nombre maximal de défaillances observables et de temps de tests pour chaque type de test afin de garantir une fiabilité globale du système avec un niveau de risque contrôlé. Le problème est également de fournir une estimation par intervalle de confiance du taux de défaillance global (donc du MTTF) à la suite des tests de démonstration de fiabilité.

Vincent Couallier, Léo Gerville-Réache, Laurent Denis